行業概述
半導體制造涉及一系列不同工藝步驟,在半導體的制造工藝中,器件的不良率很大程度由污染造成。在超純水、電子化學品、電子特氣、硅片等各個環節,均需進行嚴格的環境污染管控及污染物檢測。如果您需要測量半導體制造中所用化學品中的金屬雜質,或者測試硅晶片或最終元件中的金屬污染物,萊伯泰科為您提供靈敏、穩定、強健的分析方法滿足您的需求。
萊伯泰科為半導體行業中各種樣品的痕量元素分析提供解決方案,這些樣品包括單晶硅片、太陽能光伏硅片、高純制程化學品、超純水、有機試劑和光阻材料等。萊伯泰科的研發和技術支持團隊提供了專門用于滿足半導體行業需求的單四極桿和串聯四極桿 ICP-MS 系統。